您现在的位置:首页> 测试与测量 >正文

 

NI发布2011自动化测试技术展望


技术分类: 测试与测量| 2011-04-13
EDN China

  美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日发布了《2011自动化测试技术展望》,就影响测试测量的技术与方法发表了研究结果。该报告所阐述的发展趋势覆盖了消费电子、汽车、半导体、航空航天、医疗设备和通信等众多产业,帮助工程师和企业管理人员利用最新策略和最佳实践案例,优化测试组织架构。

  《2011自动化测试技术展望》以学术和工业研究、网上论坛、问卷调查、商业咨询、客户反馈等多种形式广泛进行调查,提出了下一代测试测量行业的发展趋势,以应对该行业所存在的商业与技术挑战。报告从四个方面进行了阐述:

  -- 测试资源整合:将设计验证和生产测试的资源整合在一起,需要重视人力资源、流程控制和技术等方面的革新。

  -- 系统软件栈:一个高度集成的软件架构可以提升测试性能,并缩短开发时间时间。

  -- 异质计算:未来的测试系统将会需要不同类型的运算节点,来满足愈加严格的数据分析与处理要求。

  --IPto the Pin:在设计与测试阶段共享FPGA IP可显著缩短对设计进行验证测试的时间,提高产品测试的效率和故障检测覆盖率。

0 0
博客 小组论坛
转载声明:此内容为EDN原创,如需转载请注明“信息来源:www.ednchina.com,电子设计工程师灵感之源”。
【推荐给朋友】 【复制链接给MSN/QQ好友】
推荐文章
Synopsys数据转换器IP已被应用于中芯国际低漏电工… [2011-04-21]
芯片物理实现服务 [2011-04-07]
HDL Design House采用全套微捷码软件加速SoC和IP开… [2011-04-01]
灿芯半导体获得ARM IP 授权 [2011-03-18]
美商传威 TranSwitch推出全新网站 [2011-03-16]

 

对文章的评论 更多评论