中控亮相2011国际仪表与测量技术大会
2011-5-13 16:44:12中控科技集团有限公司供稿

　　 5月10日～12日，一年一度的仪器与测量领域水平最高、影响力最大的国际学术盛会——2011国际仪表与测量技术大会（I2MTC）在杭州龙禧福朋喜来登酒店召开。本届I2MTC由美国电气和电子工程师学会（IEEE）仪表与测量协会（I&M Society）主办，浙江大学承办，吸引了来自美国、意大利、英国、加拿大等40多个国家和地区的300余名专家和学者参加。中控技术股份公司作为仅有的两家企业代表之一亮相，中控创始人褚健教授于开幕当天发表主旨演讲，介绍了中控在自动化控制系统和现场总线技术等领域的最新科研成果和应用，引起了国内外学者的广泛关注。


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