CCIG 2025 | 工业视觉智能检测技术前沿论坛成功举办
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【CCIG 2025】工业视觉智能检测技术前沿论坛成功举办
2025年5月9日下午,在中国图象图形学学会主办的2025中国图象图形大会上,由CSIG图像视频通信专业委员会承办的“工业视觉智能检测技术前沿”分论坛在长沙国际会议中心顺利举行。本次分论坛探讨工业视觉智能检测技术的最新进展与未来趋势,就半导体晶圆光学检测、柔性视觉检测、基于视觉感知的表面缺陷检测方法、小样本缺陷检测、面向统一与通用的视觉异常检测以及在多个真实领域落地案例等前沿议题进行深入交流与研讨。论坛由中国科学院自动化研究所副研究员陶显和华中科技大学周瑜教授担任主席,吸引了百余位学者聆听并交流。

论坛嘉宾合影
首先,清华大学丁贵广教授的报告“半导体晶圆光学检测技术”,为我们重点阐述如何在工业场景下提升主流缺陷检测模型的处理效率,如何利用无监督异常检测模型实现亚微米级缺陷的高效检出,以及如何解决主流大模型在工业视觉场景中的领域自适应问题,相关方案整合形成一套有效的全链路晶圆光学检测方案,为行业提供借鉴。

丁贵广教授作报告
中山大学赖剑煌教授的报告“面向工业AI外观质检的柔性视觉检测技术及其应用”,针对工业质检面临的小样本、尺度变化、跨场景布局、推理速度等挑战提出解决方案。
介绍了样本重构融合、小波引导自注意力、原型引导域适应、轴向分解自注意力等关键技术,展示了相关技术在手机、柔性包装、PCB板LED灯等缺陷检测的实际落地应用案例。

赖剑煌教授作报告
湖南大学刘敏教授的报告“基于视觉感知的表面缺陷检测方法及系统”,致力于解决高端装备表面缺陷快速精准检测中的背景复杂、样本稀缺、特征微弱等难题,开展基于视觉感知的工业缺陷检测方法研究并进行工业软件集成。研究成果应用于工业质检和国防制造等领域,支撑产业升级和制造业迈向全球价值链中高端。
刘敏教授作报告
视比特机器人AI产品总监徐建雄的报告“基于大模型的工业外观质检技术与平台”,聚焦工业4.0背景,推出基于先进大模型技术的工业质检解决方案及“翔云”AI运维平台,提供一站式智能化服务。
徐建雄总监作报告
东北大学宋克臣特聘研究员的报告“小样本缺陷图像的智能检测方法与应用探索”,分享基于小样本学习理论的工业产品表面缺陷图像分割与分类研究,重点关注如何利用有限样本实现有效的缺陷检测与识别,探索相关方法在实际应用场景中的潜力。
宋克臣特聘研究员作报告
最后,腾讯优图高斌斌高级研究员的报告面向统一与通用的视觉异常检测,探讨视觉异常检测面临的未知性、稀缺性和多样性挑战,指出专用模型在多类别或小数据场景的局限性。介绍团队在统一异常检测模型(DMRD, OneNIP)、少样本异常生成(AnoGen)和通用异常检测框架(MetaUAS)上的最新进展,旨在构建更高效、灵活、通用的视觉异常检测解决方案。
高斌斌高级研究员作报告
此次论坛以"工业视觉智能检测技术的前沿发展与产业实践"为主题,汇聚了该领域的顶尖专家学者。与会嘉宾围绕行业痛点和技术瓶颈展开深入探讨,系统性地分享了从底层算法创新、核心硬件研发到规模化产业落地的最新突破,为与会人员奉献了一场精彩纷呈的学术盛宴,为推动工业视觉检测技术的创新发展注入了强劲动力。
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